我要发布商家 我要发布信息
当前位置： 首页 -  供应信息 -  详细信息

原位透射电子显微镜测试

发布日期：06-10     浏览量：60
操作： 评论(0) 收藏 举报 生成朋友圈海报

测试服务介绍：

加速电压:200kV

TEM点分辨率:0.25nm，

线分辨率:0.14nm，

信息分辨率:0.12nm

STEM分辨率:0.16 nm

放大倍数:25~1500000(TEM), 150~2300000(STEM)

Super-XEDS能谱仪系统的能量分辨率:136 eV。

  • /uploads/20260610/ee6c9e85423d3e3a58d7de4318db760f.png
联系方式
提示：联系我时，请说明在Cn7135-中国企业商务信息网看到的，谢谢！
  • 联系人：(朱女士)
  • 所在地：北京
  • 电  话： 177 **** **03
  • 价格：面议
快速导航
最新相关信息更多>>

网站介绍 | 联系我们 | 网站地图

Cn7135.com 版权所有 所有信息均由网友发布,本站会认真审核每一条信息。
请您在进行交易时提高警惕,注意辨别真伪！对于您所进行的任何交易,本站不承担任何法律责任。
让我们一起努力营造一个健康积极、实用安全的网上家园,为社会造福,给他人有益的帮助！
本站内所有信息禁止转载！私自转载，后果自负！

鄂ICP备2023018467号-5