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原位透射电子显微镜测试

发布日期：06-10     浏览量：246
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测试服务介绍：

加速电压:200kV

TEM点分辨率:0.25nm，

线分辨率:0.14nm，

信息分辨率:0.12nm

STEM分辨率:0.16 nm

放大倍数:25~1500000(TEM), 150~2300000(STEM)

Super-XEDS能谱仪系统的能量分辨率:136 eV。

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