定义高温反偏老化系统是一种用于半导体功率器件（如二极管、MOSFET、IGBT、...
测试项： 冰
测试服务介绍：
GB/T 32347.1-2015IEC 62498-1:2010 4.8
只测：容积≤1000mm×1000mm×1000mm；
降雨速率25mm/h；
滴水孔Ф0.4mm；
滴雨面积900*900mm;
雨滴直径Ф1.0-1.5mm；
试验箱温度范围-20~100℃；
试验等级:A、B、C、D；
结冰厚度≤75mm。
联系方式
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- 联系人：(朱女士)
- 所在地：北京
- 电 话： 177 **** **03
- 价格：面议
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